China
  • 021-57675563

KGD 测试分选设备

KGD测试分选设备,为KGD测试系统的Handler部分,与测试机一起构成完整的测试系统 KGD测试系统主要用于功率芯片动态和静态测试,实施芯片性能指标筛选,提高封装后模块的良品率 测试项目、测试条件以及测试参数可根据客户要求配置对应规格测试机,支持定制化开发,支持多种包装方式

多工位测试,支持静态、动态、雪崩功能测试,且测试顺序可调

测试温度:支持室温~200℃,具备高温芯片表面防氧化保护

Socket:采用密封设计,可充入气体防高压打火并支持压力监测,支持自动清洁

上料区:支持正反面AOI,下料区:支持六面AOI(一个五面工位+一个正面工位)

上料支持:6"/8"晶圆,卷料等

下料支持:6"/8"晶圆,华夫盒等



适用产品:

6"/8"晶圆环(Wafer Frame)、卷料(Tape&Reel)、华夫盒(Waffle  Packs)不同包装方式的功率芯片



技术参数(STK CS 500)
 载具尺寸上料:晶圆 6"/8"(12"可选);华夫盒 2"/4";卷料 8~24mm
下料:晶圆 6"/8"(12"可选);华夫盒 2"/4";
 可测试产品元件尺寸2x2~10x10mm;厚度:60um~300 um
 UPH1000pcs(1s测试时间,4个测试平台,并行测)
 放置精度±30μm@ 3σ;±0.1°@ 3σ
 拾取力50g~600g
 测试加热温度温度:室温~200℃;温度稳定性≤±3℃;分辨率0.1℃
 测试项目静态、动态、雪崩功能测试,且测试顺序可调
 测试工位数量4个
 具备氮气保护且防高压打火功能具备
 设备尺寸 (L×W×H)4200mm*1600mm*1900mm(L*W*H)(不含测试机控制柜)
4200mm*2600mm*1900mm(L*W*H)(含测试机控制柜)
 设备重量3000kg(不含测试机)
额定电压单相 220V AC 50/60Hz
额定功率7.5kW
压缩空气0.6MPa
 通讯功能满足SECS/GEM协议
技术参数(STK CS 600)
 载具尺寸上料:晶圆 6"/8"(12"可选);华夫盒 2"/4";卷料 8~24mm
下料:晶圆 6"/8"(12"可选);华夫盒 2"/4";
 可测试产品元件尺寸2x2~10x10mm;厚度:60um~300 um
 UPH3000pcs(0.5s测试时间,8个测试平台,并行测)
 放置精度±30μm@ 3σ;±0.1°@ 3σ
 拾取力50g~600g
 测试加热温度温度:室温~200℃;温度稳定性≤±3℃;分辨率0.1℃
 测试项目静态、动态、雪崩功能测试,且测试顺序可调
 测试工位数量高温4组,常温4组
 具备氮气保护且防高压打火功能具备
 设备尺寸 (L×W×H)3900mm*1450mm*1900mm(L*W*H)(不含测试机控制柜)
3900mm*2400mm*1900mm(L*W*H)(含测试机控制柜)
 设备重量3000kg(不含测试机)
额定电压三相 380V AC 50/60Hz
额定功率13kW
压缩空气0.6MPa
 通讯功能满足SECS/GEM协议

以上图片及参数仅供参考,实际以技术协议为准


上一篇:IGBT模块动静态测试自动化产线 下一篇:没有了